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環(huán)球視點!羅德與施瓦茨發(fā)布在片器件測試解決方案


(資料圖)

羅德與施瓦茨為在片器件的完整射頻性能表征提供測試解決方案,該方案結合了羅德與施瓦茨強大的R&S ZNA矢量網(wǎng)絡分析儀和FormFactor先進的工程探針臺系統(tǒng)。半導體制造商可以在產(chǎn)品的開發(fā)、認證和生產(chǎn)階段執(zhí)行可靠且可重復的在片器件特性測試。

關鍵詞: 解決方案 生產(chǎn)階段 矢量網(wǎng)絡分析儀

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